Photo-Tech News & Report

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3D白色干渉顕微鏡による三次元表面性状測定とその応用

近年の微細加工における精度の向上は目覚ましく,加工部品の表面に仕上げ加工を施し,機能性を付すことで付加価値を高めるプロセスが広く実用化されている。例えば表面加工によって摩擦を低減,または付加することで部品同士の動力伝達を […]
注目のFOP─用途開拓を推進へ

注目のFOP─用途開拓を推進へ

株式会社オプトゲートは,光ファイバーを束にした光学デバイス『ファイバーオプティックプレート(FOP)』の取り扱いを開始した。 FOPは,入射された光やイメージをダイレクトに出射面に伝達することができるもので,塩湖が干上が […]
ディスコ,SiCウェハーの新加工手法“KABRA”プロセスを開発 ─SiCデバイスの低コスト化に道!

ディスコ,SiCウェハーの新加工手法“KABRA”プロセスを開発 ─SiCデバイスの低コスト化に道!

電力変換や制御を行なうパワー半導体デバイス用材料の一つとして,SiCに注目が集まっている。SiCは絶縁破壊電界強度やバンドギャップがSiに比べて数倍高く,電力損失が少ないという優れた特性を持っているため,機器の省エネ化, […]