日本レーザー,米BI社製波長計・スペアナの取扱いを開始

日本レーザーは,米Bristol Instruments(BI)社の波長計及びスペクトラムアナライザの販売を開始した(ニュースリリース)。

BIは,光干渉計をベースとする高精度測定器の設計・製造を行なうメーカー。2005年設立,米ニューヨーク州ロチェスター近郊に位置する。スタッフはレーザーと高精度計測機器の設計,製造,マーケティングまで深い造詣と高い経験を有し,製品は高分解能なレーザー・スペクトル評価のため世界中の産業・研究両分野で導入されている。

今回,日本レーザーが扱いを開始したのは以下の3機種
「671シリーズ 高精度CW波長計」
 波長域: VIS 375~1100 nm / NIR 520~1700 nm / IR 1~5μm / MIR 1.5~12 μm
 671A高精度モデル:測定確度 ±0.2ppm、測定分解能 ±0.06ppm
 671B低価格モデル:測定確度 ±0.75ppm、測定分解能 ±0.2ppm
 マイケルソン干渉計ベース
 内蔵HeNeレーザーによる連続校正

「871シリーズ 高測定レート・高精度CW&パルス波長計」
 波長域: VIS 375~1100 nm / NIR 630~1700 nm
 871A高精度モデル:測定確度 ±0.2ppm、測定分解能 ±0.01ppm
 871B低価格モデル:測定確度 ±0.75ppm、測定分解能 ±0.2ppm
 測定レート: 50Hz ~ 1kHz
 フィゾーエタロンベース
 自動校正機能付き

「771シリーズ レーザースペクトラムアナライザ」
 波長域: VIS 375~1100 nm / NIR 520~1700 nm / IR 1~5μm / MIR 1.5~12 μm
 871A高精度モデル:測定確度 ±0.2ppm
 871B低価格モデル:測定確度 ±0.75ppm
 マイケルソン干渉計&高速フーリエ変換解析ベース
 CW&パルス両用

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